国巨陶瓷电容失效的原因可能涉及多个方面，这些原因可以归结为内部因素和外部因素两大类。以下是对这些原因的详细分析：

一、内部因素

1、内电场效应：

陶瓷电容器内部存在电场分布，当电压施加在电容器上时，电场会影响材料的结构和性能。长期作用下，电场会导致电容器内部电介质的极化效应，从而增加介质的损耗，减少电容器的绝缘阻值，甚至会导致短路。

晶粒之间的电子迁移也会加剧电容器的失效。

2、介质老化：

陶瓷电容器材料如Z5U、X5R、X7R等在使用过程中会随着温度的变化而发生相变，导致晶体结构的变化，从而影响电容器的性能。

介质中的添加剂会随着时间的推移被耗尽，导致电容器的绝缘性能下降，损耗增加。

3、材料不均匀性：

陶瓷电容器的制造过程中难以保证材料的均匀性，导致不同位置的电容器性能差异。例如，陶瓷材料中的含杂物、孔隙、晶体取向等不均匀因素会导致电容器的电容值、损耗因子等性能参数不一致。

材料的机械强度也会对电容器的压力性能产生影响，不均匀的材料容易引起电容器的破损。

4、电极与材料的界面反应：

陶瓷电容器的电极主要由金属材料组成，如银、镍等。在使用过程中，电容器的电压、电流等参数会引起电极与材料之间的化学反应，这些反应会改变电极-材料界面的性质，例如增加界面的接触电阻、降低电容器的绝缘性能等。

银离子迁移是一个特别显著的问题，它会导致电容器内部的漏电流增加，甚至引发短路。

二、外部因素

1、电压超载：

在电容器所能承受的电压范围之外工作，会导致电容器内部结构损坏，例如介质击穿等情况。

2、环境因素：

高温、高湿环境会加速电容器的老化和失效。湿度过高时，水膜会凝结在陶瓷电容外壳表面，降低电容器的表面绝缘电阻;湿气还会渗入半密封电容中的电容介质，降低电容介质的绝缘电阻和绝缘能力。

高温条件下，水分子在电场作用下电解为氢离子和氢氧根离子，导致银电极发生氧化反应，银离子迁移加剧，最终可能导致电容器击穿。

3、外力作用：

电容器经常受到外界的机械冲击、振动、压力或弯曲等力量的作用，导致其内部结构损坏，失效。

4、设计缺陷：

一些电容器设计存在缺陷，导致在特定的工作条件下容易失效。

综上所述，国巨陶瓷电容失效的原因是多方面的，包括内部因素如内电场效应、介质老化、材料不均匀性和电极与材料的界面反应，以及外部因素如电压超载、环境因素、外力作用和设计缺陷等。为了减少电容器的失效，需要从材料选择、制造工艺、工作环境设计等多个方面进行综合考量和优化。